gbs-elektronik 探測(cè)器NaI Detectors

NaI探測(cè)器可能是伽馬光譜學(xué)中使用 泛的探測(cè)器。它們具有足夠的分辨率，有相對(duì)較大的晶體尺寸，可以以適中的價(jià)格提供出色的靈敏度。探測(cè)器的分辨率通常為5.8%-7%（662keV下的相對(duì)半寬度）。通常，較小尺寸的探測(cè)器具有更好的分辨率。

NaI探測(cè)器NaI探測(cè)器

GBS Elektronik GmbH銷售的探測(cè)器的一般特性

探測(cè)器在外殼中包含晶體、光電倍增管、分壓器和前置放大器

探測(cè)器由PMT和晶體組成，外殼帶有Jetec連接器

水晶的蓋子壁厚為1mm，由鋁制成

連接器

高壓SHV（典型值-600…-1000 V）

前置放大器信號(hào)輸出BNC

Sub-D9用于前置放大器電源（+/-12 V）

3m連接電纜可用

杰德克B14或杰德克B12

配件

用于垂直放置探測(cè)器的功能三腳架

定制鉛屏蔽

標(biāo)準(zhǔn)尺寸

40*40毫米

51*51毫米（2英寸*2英寸）

63*63毫米（2.5英寸*2.5英寸）

76*76毫米（3英寸*3英寸）

特殊尺寸

100*100mm，帶孔（井型），用于檢測(cè)樣品中的 活性。

125*70毫米，非常靈敏，用于光譜門戶監(jiān)視器或地形測(cè)量。

其他尺寸和設(shè)計(jì)也可應(yīng)要求提供。

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